焦慧芳
- 作品数:38 被引量:45H指数:3
- 供职机构:西安电子科技大学更多>>
- 发文基金:国家部委预研基金更多>>
- 相关领域:电子电信自动化与计算机技术理学一般工业技术更多>>
- SRAM数据残留现象的机理分析被引量:2
- 2008年
- 通过实验进行了SRAM数据残留机理的研究,建立了数据残留时间与温度的关系。确定了低温下非平衡载流子复合率及扩散速度的降低,是导致SRAM断电后数据残留的主要原因。同时进行了SRAM电参数与数据残留的相关性分析,排除了实验条件下热载流子效应对数据残留特性的影响。
- 焦慧芳张小波贾新章杨雪莹钟征宇
- 关键词:SRAM数据残留载流子复合热载流子效应
- 低压功放IC特性异常现象的模拟分析
- 2006年
- 在分析某低压功放集成电路功能原理的基础上,针对该电路成品测试中出现的特性异常现象,结合原理分析,采用模拟仿真的方法,分析、再现异常现象,确定了导致特性异常的原因,并通过对PCM测试图形的测试,验证了分析结论。
- 孟莹贾新章焦慧芳
- 关键词:肖特基二极管模型参数计算机模拟
- VLSI塑料封装失效分析与控制方法研究被引量:1
- 2005年
- 塑封VLSI由于其固有的弱点,在应用过程中封装失效成为其重要的失效模式之一。通过大量的塑封VLSI失效分析实践,针对VLSI塑料封装失效,进行了快速定位技术的研究,总结出一套简化的失效分析程序。同时从引起塑封VLSI封装失效的根本原因入手,探讨了避免塑封VLSI封装失效的控制方法。
- 焦慧芳贾新章王群勇
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 2005年
- 针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。
- 焦慧芳温平平贾新章王群勇罗雯
- 关键词:信号频率
- SRAM 6T存储单元电路的PSPICE辅助设计被引量:3
- 2005年
- 首先从双稳态电路入手,分析了 SRAM6T 单元电路的工作原理和设计要求。基于实际工艺下 MOS 晶体管的 SPICE 模型,给出了一组可行的设计参数。用 PSPICE 对设计出的6T 存储单元进行了功能验证。
- 张小波焦慧芳贾新章
- 关键词:静态随机存储器双稳态单元电路
- CPU技术发展及其可靠性评价研究
- 本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段.面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多...
- 焦慧芳温平平贾新章
- 关键词:可靠性电子计算机
- 文献传递
- 一种基于LFSR与MARCH C+算法的 SRAM内建自测电路设计
- 本文提出了一种基于LFSR与MARCHC+算法的SRAM内建自测试新结构,基于此结构设计了2K×8嵌入式静态存储器(SRAM)的内建自测电路,给出了电路的仿真与综合结果.文章对比分析了这种新结构与传统结构的特性,指出这种...
- 焦慧芳张小波贾新章
- 关键词:可靠性分析嵌入式存储器
- 文献传递
- 混合滤波电路可制造性优化设计被引量:2
- 2005年
- 以统计最优化方法为理论指导,利用PSPICE电路模拟软件中的统计优化模块和参数扫描功能,对混合滤波电路进行了针对成品率的可制造性优化设计,提高了该产品的设计成品率,达到了批量生产的要求。同时,从中提升出基于PSPICE平台的电路可制造性优化设计技术。
- 焦慧芳贾新章曾志华
- 关键词:成品率可制造性
- 电子束测试系统的IFA应用技术被引量:1
- 1997年
- 本文阐述了电子束测试系统的图像失效分析技术(IFA)的起源与发展,详述了该方法的原理和优势,探讨了IFA的实现方法,并将IFA方法进行了实际应用,获得了有意义的结果。
- 焦慧芳费庆宇
- 关键词:VLSIIFA
- 通用微处理器等效老化试验方法
- 针对不同工艺、不同设计的同类集成电路等效老化的需要,提出了集成电路等效老化的特征参数--'归一化老化电流'指标a,并讨论了等效老化信号的确定原则.结合集成电路等效老化信号确定原则,以CPU486为研究对象,给出通用CPU...
- 焦慧芳温平平贾新章王群勇罗雯
- 关键词:微处理器CPU信号频率集成电路
- 文献传递