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文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇专利

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 3篇雪崩
  • 2篇电路
  • 2篇设计方法
  • 2篇集成电路
  • 2篇盖革模式
  • 2篇APD
  • 2篇淬火
  • 1篇单光子
  • 1篇单光子探测
  • 1篇雪崩二极管
  • 1篇量子效率
  • 1篇光子
  • 1篇二极管
  • 1篇SPAD
  • 1篇EDA设计

机构

  • 4篇中国科学院

作者

  • 4篇周扬
  • 3篇陈世军
  • 3篇白宗杰
  • 2篇邓若汉
  • 2篇陈永平
  • 2篇刘强
  • 2篇严奕
  • 1篇陈永平

传媒

  • 1篇半导体技术
  • 1篇半导体光电

年份

  • 1篇2011
  • 3篇2010
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
盖革模式APD被动淬火与恢复集成电路的设计方法
本发明公开了一种“盖革”模式APD器件被动淬火与恢复集成电路的设计方法。本发明方法基于目标APD器件的实测特性,抽象出I-V关系式,从而建立非线性模块表征目标APD器件的实测特性,同时在设计过程加入流控开关准确判断雪崩淬...
周扬陈永平陈世军刘强白宗杰邓若汉严奕
文献传递
SPAD的EDA模型及其在集成淬火电路设计中的应用被引量:5
2010年
针对应用于单光子探测的单光子雪崩二极管建立了EDA电路模型,讨论了模型参数设置及仿真方法,利用此模型分别完成了像素级被动淬火集成电路、像素级主动淬火及快速恢复集成电路的设计仿真,并利用CSMC公司的0.5μmCMOS工艺进行流片制作。结果表明,建立的探测器模型与CMOS电路设计相互兼容,通过合适的电路设计和参数设置,采用以上集成淬灭电路的单光子探测器的最小"盲时"可分别达到100ns和4ns。
周扬陈永平
关键词:EDA设计
单光子雪崩二极管探测系统测试与设计分析被引量:7
2010年
随着在弱光探测量子通讯领域研究的深入,光子探测逐渐成为国内外研究的热点。基于Si单光子雪崩光电二极管探测系统,介绍了系统相关性能参数以及相应的测试方法,对主要结构、性能指标和外界环境条件进行了综合性分析,总结并设计了一套完整的测试平台以及测试手段用于对单光子探测系统主要性能进行测试。测试平台采用主动与被动淬火电路两种方式对样品进行测试,结果表明了其相关参数与外偏置电压的非简单线性关系,与理论推理进行比较验证,并讨论了测试平台的优化方案。
白宗杰陈世军周扬
关键词:单光子探测雪崩二极管量子效率
盖革模式APD被动淬火与恢复集成电路的设计方法
本发明公开了一种“盖革”模式APD器件被动淬火与恢复集成电路的设计方法。本发明方法基于目标APD器件的实测特性,抽象出I-V关系式,从而建立非线性模块表征目标APD器件的实测特性,同时在设计过程加入流控开关准确判断雪崩淬...
周扬陈永平陈世军刘强白宗杰邓若汉严奕
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